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XRF-2000鍍層測厚儀

來源:深圳市鑫捷偉科技有限公司   2017年04月28日 11:36  

韓國先鋒X-ray膜厚儀Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導體等產品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測量結果, zui小測量面積為直徑為0.1mm的圓面積;測量范圍:0-35um;

 

韓國先鋒X-ray膜厚儀品應用

產業

產品

應用例

IC封裝

導線架,BGABCCFlip-Chip,散熱片

Sn-Pb/xx,Ag/xx,Au/Ni/xx,Au/Ni-P/xx,Ni-P/xx,Cr/xx,Sn/xx,

Au/Pd/Ni/Cu.Solder Bump

導線架

導線架

Ag/xx

PCB  FPC

BGA,TBGA,TAB

Sn-Pb/xx,Au/Ni/xx,Au/Ni-P/xx,Sn/xx 

含溴的雙層PCB

端子工業

連接器

Sn-Pb/xx, Au/Ni/Cu, Ni-P/xx ), Ag/xx, Ni/Cu

被動組件

芯片電阻,電容,電感,熱敏電阻

Sn-Pb/Ni/xx,Sn/Ni/xx,Au/Ni/xx

螺絲工業

螺絲

Zn/xx, Ni/xx, Cu/xx

電鍍線

 

電鍍液分析

其它工業

探針,馬達,石英振動器,電線電纜,裝飾品

Au/Ni/xx, Rh/xx, Cr/xx, Sn-Pb/xx

韓國先鋒X-ray膜厚儀應用實例圖示

(1)單鍍層:Ag/xx

 

(2)合金鍍層:Sn-Pb/xx

 

(3)雙鍍層:Au/Ni/xx

Ag

 

Sn-Pb

 

Au

底材

 

底材

 

Ni

 

 

 

 

底材

 

 

 

 

 

(4)合金鍍層:Sn-Bi/xx

 

(5)三鍍層:Au/Pd/Ni/xx

 

(6)化學鍍層:Ni-P/xx

Sn-Bi

 

Au

 

Ni-P

底材

 

Pd

 

底材

 

 

Ni

 

 

 

 

底材

 

 

 

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