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X射線無損膜厚儀

來源:深圳市鑫捷偉科技有限公司   2017年04月27日 11:21  

X射線無損膜厚儀Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導體等產品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測量結果, zui小測量面積為直徑為0.1mm的圓面積; 測量范圍:0-35um;

X射線無損膜厚儀其特點為:激光自動對焦、全自動XYZ樣片臺、簡易自動對位、具溫度補償功能、十字線自動調整、可自行設計報告格式、多鍍層及電鍍液分析、具有競爭力的價格、五個可選準直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性測厚儀器的機型。測量精度:誤差控制在±5%.

X射線無損膜厚儀標準規格

 

檢測系統

檢測器

正比計數器

檢測濾片

Co或Ni(選項)

X-Y-Z三軸樣片臺

操作模式

高速精密馬達,可控制加減速

 

 

位置控制

鼠標定位

樣品臺窗口控制

防呆攝錄機監控

2D、3D、隨機定位

程控定位

箱門開關感應Y軸傳輸

攝像系統

攝像器

彩色數字CCD攝像頭

顯示模式

顯示器覆蓋模式

刻度線

軟件產生

光束顯示

軟件顯示真實大小

照明燈

光暗控制

自動修正功能

光束及十字線自動修正

統計功能

處理項目

zui大/zui小值,位移,平均值,標準差,

Bar圖表R圖表及方型圖等

報表

五種模式可選

處理能力

zui多90項

標志功能

可插入公司標志

預覽

打印前預覽,可節省紙張

定性分析

顯示模式

原素頻譜顯示

方法

ROI距離定性分析

原素顯示

卷標圖案顯示

指針顯示

顯示原素及測量數值

ROI顯示

顯示ROI彩色圖

放大功能

局部放大

平均功能

柔和顯示頻譜

窗口大小

無級別式窗口大小

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