X射線鍍層測厚儀韓國先鋒● 熒光X-射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征
- 可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
- 可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。
- 薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置,可同時(shí)對多層鍍層及合金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量。此外,也適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。
- 備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
- X射線鍍層測厚儀韓國先鋒標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格
主機(jī)箱
輸入電壓
AC220±10% 50/60HZ
溝通方法
RS-232C
溫度控制
前置放大及機(jī)箱溫度控制
對焦
激光自動對焦
樣品對位
激光對位
安全裝置
若測量中箱門打開,X射線會在0.5秒內(nèi)關(guān)閉
表面泄漏
少于1 SV
多通道分析
通道數(shù)量
1024ch
溫度控制
自動前置放大溫度控制
脈沖處理
微電腦高速處理器
X射線源
X射線管
油冷,超微細(xì)對焦(選項(xiàng))
高壓
0 - 50KV(程控)
管電流
0 - 1mA(程控)
目標(biāo)靶
W靶(可選Mo或Be)
準(zhǔn)直器
種類
固定型或自動型(選項(xiàng))
固定種類大小
可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.3mm
其他大小(選項(xiàng))
自動種類大小
0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.3mm
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
計(jì)算機(jī)
IBM相容
顯示器
彩色顯示器
打印機(jī)
噴墨彩色打印機(jī)
校正
應(yīng)用
單鍍層,雙鍍層,合金鍍層,電鍍液
修正功能
密度修正,標(biāo)準(zhǔn)樣品再校正
2D、3D隨機(jī)位置測量
2D
均距表面測量
3D
表面排列處理測量
隨機(jī)位置
任意設(shè)定測量點(diǎn)
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。