應力篩選規范列表
應力篩選規范:
MIL-202C-106、107 | 電子及電器部件試驗方法標準 |
MIL-781 | 可靠性試驗方法手冊 |
HB/Z213 | 機載電子設備環境應力篩選指南 |
HB6206 | 機載電子設備環境應力篩選方法 |
JESD22-A109-A | 器密試驗方法 |
TE000-AB-GTP-020 | 環境應力篩選要求與*電子設備應用 |
CFR-Title 47-Chapter I-68.302 | 美國聯邦通訊委員會環境仿真 |
GJB/Z34 | 電子產品定量環境應力篩選指南 |
HB/Z213 | 組件級環境應力篩選 |
溫度循環:
EC 68-2-14 | 溫度變化 |
MIL-STD-2164 | 電子設備環境應力篩選方法=GJB1032-1990 |
GJB1032-1990 | 電子設備環境應力篩選方法 |
DOD-HDBK-344 | 電子設備環境應力篩選=GJB/Z34-1993 |
NABMAT-9492 | 美軍*制造篩選 |
JIS C5030 | 熱循環試驗 |
零件預燒試驗:
MIL-STD-883,Method 1008 | 預燒 |
MIL-STD-883,Method 1015 | (IC類預燒) |
MIL-STD-750,Method 1038 | (二極管類預燒) |
MIL-STD-750,Method1039 | 晶體管類預燒) |
MIL-STD-883,Method 1010 | 溫度循環 |
MIL-M-38510 | 軍用微型電路的一般規格 |
MIL-S-19500 | 半導體器件要求和特點 |
系統預燒:
MIL-781 | 可靠性設計鑒定與生產接收試驗 |
MIL-810 | 美國軍標環境工程考慮和實驗室試驗
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