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采用 NexION 5000 ICP-MS 測定超高純銅中的溴

閱讀：330 發布時間：2021-05-17

銅（Cu）具有較高的導電性、導熱性、強耐磨蝕性、優良的工藝性能且強度適中，因而得到廣泛地應用。

銅是較為少見的幾種常用純金屬之一，尤其是超高純銅（99.999 %至 99.99999 %），它是大規模集成電路連接線和音頻設備電纜行業中使用的標準材料。但是，高純銅中含有的雜質（例如 Br）在不同程度上降低了銅的導電性和導熱性，因此是材料質量的限制因素。

在自然界中，溴有兩種同位素，m/z 79 和 81，二者均受到氧化銅干擾。此外，由于 Br 的電離效率低（5 %），測定銅中的溴難度*。因此，采用能夠有效消除氧化物干擾的電感耦合等離子體質譜（ICP-MS）將具有明顯優勢，既能防止額外干擾的形成，還能夠在分析物響應信號較低的情況下準確定量，并提高超高純銅加工廠的產量。
在本應用文獻中，采用珀金埃爾默的 NexION® 5000多重四級桿 ICP-MS 系統對超高純銅（約99.999 %）中的 Br 雜質進行定量。

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