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Avio 500 ICP-OES實(shí)時(shí)內(nèi)標(biāo)法 獲得更高精度

閱讀:322      發(fā)布時(shí)間:2020-05-22
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使用ICP-OES進(jìn)行測量時(shí),通??山邮艿木?即相對標(biāo)準(zhǔn)偏差,RSD)為1-2%。但是,有些應(yīng)用則需要更高精度,如貴金屬、電池材料等的主要成分分析以及基質(zhì)組成的確認(rèn)。在Avio 500 ICP-OES.上采用實(shí)時(shí)內(nèi)標(biāo)法(CRTSIS) 技術(shù)是一種實(shí)現(xiàn)更高精度測量的簡單方法。

影響精度的變量:
以下因素都會影響到測量的精度:閃爍噪聲、散粒噪聲(即計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù))以及內(nèi)標(biāo)物的選擇。閃爍噪聲為分析信號中源自等離子體的噪聲,這主要是由樣品引入過程引起的。這些噪聲源包括來自蠕動(dòng)泵的脈沖,通過霧室進(jìn)入等離子體的氣溶膠的產(chǎn)生和運(yùn)輸,以及等離子體內(nèi)部發(fā)生的過程。通常,蠕動(dòng)泵是導(dǎo)致閃爍噪聲的主要因素。在考慮散粒噪聲/計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)信息時(shí),邏輯上來講更高的強(qiáng)度將帶來更佳的精度,但如果沒有以方式實(shí)現(xiàn),更高的強(qiáng)度也會導(dǎo)致精度稍差。例如,增加測量強(qiáng)度的一-種方法是使用更長的讀取時(shí)間。但是,在保持恒定的測量時(shí)間的同時(shí)保證更長的讀取時(shí)間,則必須減少重復(fù)測量的次數(shù)。因此,這也會導(dǎo)致精度降低。所以必須在測量時(shí)間、重復(fù)次數(shù)、分析強(qiáng)度和讀取時(shí)間之間平衡。
 
在進(jìn)行分析時(shí),內(nèi)標(biāo)物的使用非常重要,因?yàn)樗鼈儠瑫r(shí)導(dǎo)致樣品基質(zhì)和樣品引入效應(yīng)。內(nèi)標(biāo)以恒定的濃度添加到所有空白、樣品和標(biāo)樣中,濃度要足夠大,以便觀察到由樣品基質(zhì)和/或樣品引入引起的任何變化。如果內(nèi)標(biāo)的強(qiáng)度受到影響,則假定分析物的強(qiáng)度也會受到同樣的影響。在結(jié)果中根據(jù)內(nèi)標(biāo)的信號效應(yīng)來調(diào)整分析物的強(qiáng)度。通常,分析中的所有元素都使用1或2個(gè)內(nèi)標(biāo)。但是,即使在同步ICP-OES儀器上,內(nèi)標(biāo)也可能無法與分析物*同時(shí)測量。獲得精度的關(guān)鍵是與分析物*同時(shí)地測量內(nèi)標(biāo)。
 
 

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