簡介
隨著人們對電子產品的依賴程度越來越高，各大廠商開始不斷開發(fā)具有新功能的產品，這使得消費者日趨頻繁
地對電子產品進行更新?lián)Q代，電子產品的壽命也變得越來越短，而這也導致需要處理的廢棄電子產品數(shù)量不斷上升，盡管人們已經開始實施并大力推廣電子產品回收計劃。
電子產品中包含許多組件，一旦被丟棄，產品中的金屬極可能會進入環(huán)境中。其中令人擔憂的有毒金屬包括鎘(Cd)、鉻(Cr，主要是六價鉻[CrVI])、汞(Hg) 和鉛(Pb)。為了解決這一問題，危害性物質限制(RoHS)指令規(guī)定了鎘、六 價鉻、汞和鉛在每種電子設備中允許存在的含量，為了達到 RoHS 指令要求，是簡單也是的方法是使用微波消解制樣，并使用全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀
(ICP-OES)進行分析。盡管 ICP-OES 不連接液相色譜儀無法區(qū)別元素的不同形態(tài)，但是它能夠測量鉻的總含量， 以確定其是否超過規(guī)定水平。如果超過限值，則可以進一步制樣，并采用其他技術手段分析樣品，終確定六價 Cr 的含量。
本文將重點關注如何使用 Avio 200 ICP-OES分析電子產品中的多種樣品類型，以確保符合 RoHS 指令要求，以及制樣注意事項。
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