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    納米材料在許多消費產品領域的快速發展和應用要求我們必須快速和準確地對不同粒徑和成分的納米顆粒（NP） 進行表征。有多種技術可用來表征由金屬組成的和含有金屬成分的納米顆粒，但均受技術所限無法大規模應用 1。相比于這些技術，單顆粒 ICP-MS 技術（SP-ICP-MS）具有明顯的優勢和更廣的應用范圍，已有大量資料證明它可以快速對金屬納米顆粒和 / 或納米材料的組成和數量進行表征 2-8。歐盟委員會（EC）（2011/696/ EU）對“納米材料”的建議定義為：納米材料是一種由基本顆粒組成的粉狀或團塊狀天然或人工材料，這一基本顆粒的一維或多維尺寸在 1 納米至 100 納米之間，并且這一基本顆粒的總數量在整個材料的所有顆粒總數中占 50% 以上 9。一般而言，SP-ICP-MS 納米顆粒（NP）分析的挑戰之一就是準確地表征粒徑小于 20 nm 的顆粒的特征 10。

    為了檢測到尺寸小于20nm的納米顆粒，SP-ICP-MS方法必須具備高靈敏度、快速數據采集速率（<75μs駐留時間）和低本底等特點。另外，具有自動閾值檢測和實時本底扣除功能的數據處理軟件也是至關重要的。我們在本次工作中發現，搭載了*射頻發生器和離子透鏡技術的珀金埃爾默公司NexION®2000ICP-MS配合Syngistix™納米應用軟件模塊可以準確地測量單一粒徑或混合粒徑納米顆粒樣品中粒徑小于和等于10nm的納米顆粒并對其進行表征。