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目錄:牛津儀器(上海)有限公司>> Scanning Capacitance Microscopy (SCM): Accessory for Jupiter XR AFM [translations pending]

Scanning Capacitance Microscopy (SCM): Accessory for Jupiter XR AFM [translations pending]
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更新時(shí)間:2022-11-30 18:07:29瀏覽次數(shù):257評(píng)價(jià)

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Scanning Capacitance Microscopy (SCM) is a nanoelectrical imaging technique available on Cypher and Jupiter XR atomic force microscopes that uses a microwave radio frequency (RF) signal to map electric charge carrier locations, dopant levels, and dopant types (p-type vs. n-type) in semiconductors and other samples. The newly designed Asylum Research SCM accessory offers significantly higher performance and capability than any other currently available SCM module. Benefits include: 詢(xún)價(jià) ......
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