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Palas-U-SMPS 1700通用掃描遷移率粒度儀：

2至400 nm粒徑分布

連續(xù)和快速掃描的測(cè)量原理

高分辨率，多達(dá)128個(gè)分類(lèi)器/衰減

適用于高達(dá)10^8顆粒/立方厘米的濃度

通用連接其他制造商的DMA和納米粒子計(jì)數(shù)器

圖形顯示測(cè)量值

直觀操作，使用7英寸觸摸屏和GUI

集成數(shù)據(jù)記錄儀

支持多種接口和遠(yuǎn)程訪問(wèn)

低維護(hù)

功能可靠

減少您的運(yùn)營(yíng)費(fèi)用

適用于高氣溶膠濃度的Palas-U-SMPS 1700通用掃描遷移率粒度儀有兩種版本。 U-SMPS帶有短分類(lèi)柱（1700型），特別適合2-400 nm范圍內(nèi)的高精度粒度分布測(cè)量。Palas®U-SMPS系統(tǒng)包括一個(gè)分類(lèi)器[在ISO 15900中定義稱(chēng)為差動(dòng)遷移率分類(lèi)器（DEMC），也稱(chēng)為差動(dòng)遷移率分析儀（DMA）]，根據(jù)氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后，在下游的Charme®氣溶膠靜電計(jì)中測(cè)量這些粒子攜帶的電荷。

氣溶膠靜電計(jì)的一個(gè)主要優(yōu)點(diǎn)是可以進(jìn)行非?？焖俚臏y(cè)量。但是，這種方法需要很高的成本。因此，其適用性被限制于高氣溶膠濃度（例如，燃燒過(guò)程或顆粒發(fā)生器的下游）。可以通過(guò)物理參數(shù)直接追溯每時(shí)間單位（流量）的電荷測(cè)量值。其結(jié)果是，此方法主要用作凝結(jié)粒子計(jì)數(shù)器（例如UF-CPC）校準(zhǔn)期間的參考。

U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶(hù)界面進(jìn)行操作?？梢栽诙潭?0秒內(nèi)執(zhí)行單粒子分布掃描，或者在多達(dá)128個(gè)尺寸通道中執(zhí)行掃描，在此期間，DEMC分類(lèi)器中的電壓連續(xù)變化，從而導(dǎo)致每個(gè)尺寸通道的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)效率更高。集成的數(shù)據(jù)記錄器允許在設(shè)備上線性和對(duì)數(shù)顯示測(cè)量值。隨附的評(píng)估軟件提供各種數(shù)據(jù)評(píng)估（豐富的統(tǒng)計(jì)和平均值計(jì)算）和導(dǎo)出功能。

U-SMPS通常作為獨(dú)立設(shè)備運(yùn)行，但也可以使用各種接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）連接到計(jì)算機(jī)或網(wǎng)絡(luò)。 Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA，CPC和氣溶膠靜電計(jì)。

U-SMPS的準(zhǔn)確尺寸測(cè)定和可靠性能尤其重要，特別是對(duì)于校準(zhǔn)。所有組件都必須通過(guò)嚴(yán)格的質(zhì)量保證測(cè)試，并在內(nèi)部組裝。

圖1展示U-SMPS的工作原理：

圖1：使用氣溶膠靜電計(jì)作為濃度測(cè)量裝置的通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）的工作原理

氣溶膠在進(jìn)入分類(lèi)器（DEMC列）之前經(jīng)過(guò)調(diào)節(jié)?？蛇x的干燥器（例如硅膠，Nafion）可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑（例如Kr 85）來(lái)確保測(cè)定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類(lèi)器尺寸范圍的顆粒，需要在DEMC的入口處使用撞擊器。

然后，氣溶膠通過(guò)入口導(dǎo)入DEMC色譜柱。沿著外部電極的氣溶膠流在此與護(hù)套氣流仔細(xì)合并。重要的是在此處避免任何湍流，以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有高的質(zhì)量。

鞘空氣是干燥、無(wú)顆粒的載氣（通常是空氣），其體積大于連續(xù)在閉環(huán)中循環(huán)的氣溶膠體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比決定傳遞函數(shù)，因此決定DEMC的分離能力。通過(guò)施加電壓，在內(nèi)外電極之間會(huì)產(chǎn)生一個(gè)徑向?qū)ΨQ(chēng)的電場(chǎng)。內(nèi)電極在末端帶有小縫隙，帶正電。通過(guò)平衡每個(gè)粒子上的電場(chǎng)力及其在電場(chǎng)中的空氣動(dòng)力學(xué)阻力，帶負(fù)電的粒子被轉(zhuǎn)移到正電極。根據(jù)它們的電遷移率，一些顆粒會(huì)穿過(guò)狹縫并離開(kāi)DEMC。

在工作中，電壓和電場(chǎng)因此而連續(xù)變化。結(jié)果，具有變化遷移率的顆粒會(huì)離開(kāi)DEMC，并且由納米顆粒計(jì)數(shù)器 – 在此顯示為氣溶膠靜電計(jì)（例如Palas®Charme®）連續(xù)測(cè)量。