美國Dakota超聲波測厚儀CMX DL有所有的CMX的特點,再加上一個巨大的存儲容量,采用多文件結(jié)構(gòu)。選擇之間的文件格式:順序,與自動識別或,我們的標準的字母數(shù)字網(wǎng)格格式。存儲容量是相當(dāng)令人印象深刻的。圖16000:商店+閱讀(材料及涂層)與B型,和所有的功能和設(shè)置每讀表。圖形:存儲210000 +讀數(shù),包括材料,涂層,小的和大的讀數(shù)。海量存儲容量!該套件包括基于PC或MAC OSX軟件我們的dakview Java,傳遞和報告的目的。
美國Dakota涂層超聲波測厚儀CMX DL+參數(shù)
脈沖反射溫度補償模式(PETP):(坑及探傷)自動溫度補償–措施從0.025 19.999英寸(0.63毫米至500毫米)。
回波-回波模式(EE):通過油漆和涂料)從0.100到4英寸(2.54毫米至102毫米)的措施。范圍將不同+ / -取決于涂層。
回波-回波模式(e-ev):通過油漆和涂料)從0.050到1英寸(1.27毫米至25.4毫米)的措施。將不同的涂層。
涂層只有模式(電腦斷層):(涂層厚度)從0.0005到0.100英寸(0.0127到2.54毫米)。范圍將不同+ / -取決于涂層。
分辨率:001英寸(0.01毫米)
速度范圍:0492至5510,1250至13995米/秒
校準:材料和涂層的單點和兩點校準選項,或基本材料類型的選擇。
單位:英語和公制
重量:13.5盎司(電池)。
尺寸:2.5瓦×6.5×1.24×165英寸(63.5×31.5×毫米)。
工作溫度:- 14°~140°(- 10°~60°)。
鍵盤:帶有十二個按鍵的膜開關(guān)。
案例:鋁合金擠壓鋁閥體與鍍鎳鋁端蓋(密封墊)。
數(shù)據(jù)輸出:雙向RS232串口。Windows?PC接口軟件。
顯示:1 / 8?;叶蕊@示的VGA(240 x 160像素)??梢暶娣e2.4×1.8。(62×45.7mm)。
EL背光(開/關(guān)/自動)。
測量模式:涂層脫落:脈沖回波(PE)
涂層:涂層(PECT)脈沖回波
溫度補償:脈沖回波(PETP)
通過油漆:回波(EE)
通過油漆驗證:回波驗證(e-ev)
涂層:涂層(電腦)
脈沖發(fā)生器:雙方波脈沖發(fā)生器。
接收器:雙接收器–手動或AGC增益控制范圍(有限)110dB。
三節(jié)1.5V堿性或鎳鎘電池1.2V AA。
通常工作150小時和100小時(堿性鎳鎘充電器不包括在內(nèi)。)
自動關(guān)機,如果空閑5分鐘。電池狀態(tài)圖標。
測量范圍:脈沖回波模式(P-E):(坑及探傷)0.025 19.999英寸(0.63毫米至500毫米)的措施。
脈沖回波涂布方式(PECT):(材料,涂料,坑和探傷):材料:0.025到19.999英寸(0.63毫米至500毫米)。涂層:0.001至0.100英寸(0.01至2.54毫米
公司是一間專門生產(chǎn)工業(yè)上所使用的測厚儀及探傷設(shè)備. 儀器是采用超聲波技術(shù),不需將工件損壞就能作出探傷檢查或用作工件厚度或長度測量。
產(chǎn)品系列
超聲波測厚儀ZX系列 ZX-3 / ZX-5 / ZX-5DL
超聲波測厚儀ZX系列 ZX-6 / ZX-6DL
多功能精密超聲測厚儀PVX
多功能超聲測厚儀系列
A/B掃描超聲波測厚儀MVX
多功能涂層超聲測厚儀CMX
多功能涂層A/B掃描超聲測厚儀CMX DL+
MINI-MAX超聲螺栓應(yīng)力測試儀
PR-8V精密超聲測厚儀
UMX-2 超輕量式水下測厚儀
深圳市泰立儀器儀表有限公司 - 代理許多的高科技儀器和設(shè)備,其中尤以無損檢測和金相理化設(shè)備為主。包括:超聲、渦流、漏磁、磁粉、射線、金相制樣、光譜等等。材料檢測為產(chǎn)品質(zhì)量提供了可靠的保證,同時增加了附加成本。但從另一角度考慮這一附加成本,質(zhì)量保證確實對節(jié)約潛在成本提供了有價值的代價。按優(yōu)化的生產(chǎn)流程您可以獲得幾個關(guān)鍵性的好處,提高生產(chǎn)效率,降低失效的危險性,同時延長設(shè)備的使用壽命。
無損檢測
涂層測厚儀 | 超聲波測厚儀 | UT探傷儀 | UT/PA 相控陣探傷儀 | 水浸C掃描系統(tǒng) | 便攜式渦流探傷儀 | 渦流探傷系統(tǒng) | x射線成像系統(tǒng) | 工業(yè)x射線機 | x光探傷機 | x光洗片機 | 工業(yè)x射線實時成像檢測系統(tǒng) | 數(shù)碼成像系統(tǒng) | 自動洗片機 | 電導(dǎo)率測量儀 | 磁粉探傷機 | 移動式磁粉探傷機 | 德國db | 以色列scanmaster | 德國tiede | 意大利寶石隆
理化檢測
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