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貨物所在地：上海上海市
所在地： 日本
更新時間：2024-11-19 16:18:24
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王子計(jì)測光學(xué)軸測定裝置
PAM-PR300
產(chǎn)品規(guī)格
測定項(xiàng)目 | 偏光軸方位、配向角、位相差 |
測定對象 | 光學(xué)薄膜、偏光板 |
測定原理 | 旋轉(zhuǎn)光子法、平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法、正交尼科爾旋轉(zhuǎn)法 |
測定時間 | 約4秒（偏光軸測定） |
測定波長 | 590nm（可選450nm，630nm等） |
樣品尺寸 | 30mm250mm,t=20mm以下 |
系統(tǒng)配置 | 測定裝置本體，光源裝置，電腦 |
儀器尺寸 | W380 ×H390 ×D610 mm |
儀器重量 | 27kg |
王子計(jì)測光學(xué)軸測定裝置
測量原理和精度
| 偏光軸方位測定 | 位相差測定 |
測定方式 | 旋轉(zhuǎn)光子法 | 平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法 |
測定項(xiàng)目 | 吸收軸方位 透過軸方位 | 位相差值、配向角 |
構(gòu)成 |
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角度分解能 | 0.001° | 0.001° |
角度精度（ 3σ） | 0.006° | 0.017° |
位相差分解能 | N/A | 0.01nm |
位相差精度（ 3σ） | N/A | 0.03nm |
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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