臺式X射線吸收譜儀,作為一種非破壞性的分析技術,具有高精度和高靈敏度的特點,近年來在材料科學、化學、生物學等領域得到了廣泛應用。
其核心原理在于利用X射線與物質之間的相互作用來揭示物質的內部結構和特性。當X射線穿過物質時,會與物質中的原子或分子發生相互作用,產生吸收、散射等現象。臺式X射線吸收譜儀通過精確測量不同能量下X射線的吸收情況,可以獲取關于物質中元素的種類、含量以及化學狀態等信息。
臺式x射線吸收譜儀利用常規X光源實現X射線吸收精細結構(XAFS)的光譜測量,對同步輻射等重大科技基礎設施及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器具有很好的補充和拓展作用。
小型化桌面式系統,易于使用:
· 支持近邊快掃功能;
· 支持原位測試等擴展功能;
· 人體工學高度設計,操作更便捷;
· 內置實驗參數預置,實現快速測量;
· 不同樣品、不同測量模式一鍵自動切換;
· 遠程數據傳輸,實時顯示實驗進程和結果支持無人值守測試;
· 專業的應用技術支持和數據分析支持;
· 儀器具有輻射豁免資質和多重安全防護聯鎖,保證人身和使用安全。
XAFS專用彎晶:
· 不同晶面配置齊全,實現各個元素覆蓋;
· 預準直安裝,即插即用;
· 可根據需要元素定制特殊彎晶,達到最佳性能。
X射線吸收精細結構(XAFS)譜儀X射線吸收譜能量掃描機構:
· 聯動掃描機構;
· 實現光源、彎晶、樣品和探測器的精密聯動;
· 精度和分辨率高,穩定性好。