目錄:安徽創譜儀器科技有限公司>>分析測試儀器>> X射線精細結構譜
應用領域 | 環保,化工,生物產業,能源 | 能量范圍 | 4.5-20keV |
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能量分辨率 | 0.5-1.5eV(7-9keV,近邊) | X射線光源 | 1.2-1.6kW閉管 |
光通量 | 1,000,000-2,000,000photons/sec/eV@9keV | 單色器晶體 | 直徑100mm,球面半徑500mm(Si/Ge)) |
探測器 | SDD探測器 | 自動樣品輪 | 16工位 |
X射線吸收精細結構(XAFS)譜儀吸收邊遷移,利用常規X光源實現X射線吸收精細結構(XAFS)的光譜測量,對同步輻射等重大科技基礎設施及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器具有很好的補充和拓展作用。該產品目前已被北京大學、北京航空航天大學、天津大學、華北電力大學、青海大學、安徽大學等眾多高校選購,有效助力相關科學研究和應用開拓!
小型化桌面式系統,易于使用:
· 支持近邊快掃功能;
· 支持原位測試等擴展功能;
· 人體工學高度設計,操作更便捷;
· 內置實驗參數預置,實現快速測量;
· 不同樣品、不同測量模式一鍵自動切換;
· 遠程數據傳輸,實時顯示實驗進程和結果支持無人值守測試;
· 專業的應用技術支持和數據分析支持;
· 儀器具有輻射豁免資質和多重安全防護聯鎖,保證人身和使用安全。
XAFS專用彎晶:
· 不同晶面配置齊全,實現各個元素覆蓋;
· 預準直安裝,即插即用;
· 可根據需要元素定制特殊彎晶,達到最佳性能。
X射線吸收精細結構(XAFS)譜儀吸收邊遷移能量掃描機構:
· 聯動掃描機構;
· 實現光源、彎晶、樣品和探測器的精密聯動;
· 精度和分辨率高,穩定性好。