18301125212
當前位置：北京百納創業科技有限公司>>分析儀器>> BN/DT-LM鋁膜測厚儀
| 應用領域 | 綜合 | 方阻 | ±0.15Ω |
|---|
鋁膜測厚儀型號：BN/DT-LM
鋁膜測厚儀
可測量范圍與量程：被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測量準確度 厚度 ±(20?+2%讀數)
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）
讀數重現性 10? (同一測量點) 注：1微米＝1000納米＝10000埃
可測量范圍與量程：被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測量準確度 厚度 ±(20?+2%讀數)
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）
讀數重現性 10? (同一測量點) 注：1微米＝1000納米＝10000埃
可測量范圍與量程：被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測量準確度 厚度 ±(20?+2%讀數)
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）
讀數重現性 10? (同一測量點) 注：1微米＝1000納米＝10000埃
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
化工儀器網