數字式四探測試儀型號：BN/SX1934B

數字式四探測試儀

儀器由主機、測試探頭(可選配測試臺)等部分組成，測試結果由數字表頭直接顯示。主機主要由數控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成，自動轉換量程。測試探頭高分子材料和高耐磨碳化鎢探制成，故定位準確、游移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。(自動調零

測量范圍 電阻率：10-2～102Ω-cm；方塊電阻：10-1～103Ω/□；電阻：10-3～9999Ω
可測半導體材料尺寸 直徑：Φ15～100mm； 長(或高)度： ≤400mm
電源
功 耗：<1W； 電源適配器：輸入:220V±10% 50Hz； 輸出:DC5V±10%
外形尺寸 主機 170mm(D)×130 mm(W)×50mm(H)

儀器由主機、測試探頭(可選配測試臺)等部分組成，測試結果由數字表頭直接顯示。主機主要由數控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成，自動轉換量程。測試探頭高分子材料和高耐磨碳化鎢探制成，故定位準確、游移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。(自動調零

測量范圍 電阻率：10-2～102Ω-cm；方塊電阻：10-1～103Ω/□；電阻：10-3～9999Ω
可測半導體材料尺寸 直徑：Φ15～100mm； 長(或高)度： ≤400mm
電源
功 耗：<1W； 電源適配器：輸入:220V±10% 50Hz； 輸出:DC5V±10%
外形尺寸 主機 170mm(D)×130 mm(W)×50mm(H)