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三箱式冷熱沖擊試驗箱芯片行業使用設備
  • 三箱式冷熱沖擊試驗箱芯片行業使用設備
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貨物所在地：廣東東莞市

所在地： 廣東省東莞市常平鎮常平中信路101號1號樓102室

更新時間：2024-08-31 11:23:40

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三箱式冷熱沖擊試驗箱在芯片行業發揮著重要作用。它擁有三個獨立箱體，分別實現高溫、低溫和測試區的精準控制。對于芯片行業而言，該設備能模擬各種不同的溫度環境變化，檢測芯片在不同溫度沖擊下的性能和可靠性。精準的溫度控制和快速的溫度轉換確保測試結果準確可靠。幫助芯片企業提前發現產品潛在問題，提升芯片質量，為芯片行業的發展提供有力的檢測支持，是芯片企業不可少的重要設備。三箱式冷熱沖擊試驗箱芯片行業使用設備


三箱式冷熱沖擊試驗箱芯片行業使用設備



在當今科技飛速發展的時代，芯片作為電子設備的核心部件，其質量和可靠性至關重要。而三箱式冷熱沖擊試驗箱，正是芯片行業中一款不可少的檢測設備。它以其出色的性能和精準的測試能力，為芯片的研發、生產和質量控制提供了有力的保障。


一、主要功能及特點：


功能：能夠快速實現高溫、低溫之間的切換，模擬芯片在實際使用中可能面臨的惡劣的溫度變化環境，對芯片的性能、可靠性進行嚴格測試。


特點：


  1. 三箱獨立結構，確保溫度轉換高效、準確。

  2. 精準的溫度控制，溫度波動小，保證測試結果的可靠性。

  3. 操作簡便，智能化控制系統，方便用戶進行參數設置和監控。

  4. 具有良好的穩定性和耐用性，能夠長時間連續工作。







二、TSD-150F-3P 參數：

  • 溫度范圍：高溫區 +60℃～+150℃，低溫區 -10℃～-65℃。

  • 溫度波動度：高溫區 ±0.5℃，低溫區 ±1.0℃。

  • 溫度均勻度：高溫區 ±2.0℃，低溫區 ±2.0℃。

  • 升溫速率：從常溫升溫至 +150℃約 30 分鐘。

  • 降溫速率：從常溫降溫至 -65℃約 60 分鐘。

  • 工作室尺寸：寬 × 高 × 深為 600mm×500mm×500mm。



三、具備測試條件：
該試驗箱具備精準的溫度控制能力，能夠在高溫與低溫之間快速切換，模擬各種不同的溫度變化情況。無論是三箱式還是二箱式，都擁有寬敞的測試空間，可滿足不同尺寸產品的測試需求。同時，配備高性能的監測系統，實時記錄測試過程中的溫度、時間等參數，為測試結果的準確性提供保障。


四、滿足以下標準：


一、國際標準


  1. IEC 60068-2-14：環境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 N：溫度變化。

  2. MIL-STD-810F：美國J用標準，環境工程考慮和實驗室試驗方法。


二、國家標準


  1. GB/T 2423.1-2008：電工電子產品環境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫。

  2. GB/T 2423.2-2008：電工電子產品環境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫。

  3. GB/T 2423.22-2012：環境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 N：溫度變化。





三箱式冷熱沖擊試驗箱芯片行業使用設備



三箱式冷熱沖擊試驗箱在芯片行業中扮演著關鍵的角色。它的出現，為芯片企業提升產品質量、增強市場競爭力提供了有力的支持。選擇三箱式冷熱沖擊試驗箱，就是為芯片的出色品質保駕護航


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