Particle Metrix納米粒子跟蹤分析儀ZetaView

產(chǎn)品型號：ZetaView

產(chǎn)品介紹

Particle Metrix在其久經(jīng)驗證的平臺PMX-x30上提供了ZetaView納米粒子跟蹤分析的多功能性，使儀器可以從一個激光器升級到四個激光器。405488520或640nm激光之間以及散射和熒光模式之間的變化是自動的。

在標(biāo)準(zhǔn)NTA或Z-NTA表面電荷電泳模式中記錄發(fā)射散射光或熒光的顆粒的運動和圖案。PMX-x30系列的新設(shè)計帶有固定單元組件，將增強的性能和可靠、測量與簡單、快速、輕松的儀器清潔相結(jié)合。

性能特點

l 掃描NTA-通過樣品池在11個位置進行自動測量，提供穩(wěn)健的性能，而不需要額外的附件。

l 固定單元組件設(shè)計-大大提高了性能，減少了出錯的可能性。

l 自動對準(zhǔn)和自動對焦-光學(xué)設(shè)置由軟件自動優(yōu)化，節(jié)省了用戶準(zhǔn)備儀器使用的時間，并消除了用戶主觀輸入的偏見。

l 快速測量-在60秒內(nèi)分析2000多個顆粒。

l 快速簡單的清潔-樣品之間的清潔只需要快速沖洗。新的固定單元設(shè)計允許使用卡口鎖快速訪問測量單元。

l 直觀的軟件-紅綠燈系統(tǒng)可以即時指示樣品是否處于適合測量的濃度，并指示樣品的稀釋系數(shù)。

l 緊湊的一體化設(shè)計-使用一臺儀器測量尺寸、濃度、電位和熒光。兼容實驗室環(huán)境小占地面積和數(shù)據(jù)文件。

l 熒光分析-熒光NTA測量允許詢問樣品中的亞群體。一個靈敏的CMOS相機，多達11個選擇性濾波器，低漂白性能產(chǎn)生高熒光靈敏度。

l 沒有高成本耗材，只有注射器和散射和熒光測量的參考標(biāo)準(zhǔn)（如果適用）。

l 無需校準(zhǔn)-尺寸測量不需要校準(zhǔn)。

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)地：德國

掃描：電動

掃描速度：不到1分鐘的時間內(nèi)采集和分析2000個粒子

測量：極性液體（如水、醇）中的納米粒子，用于尺寸、濃度、熒光和zeta電位研究

濃度范圍：105-109粒/毫升

粒度：10nm-2000nm（取決于樣品和激光）

精度：+5nm（適用于100nm聚苯乙烯膠乳）

再現(xiàn)性：t2nm（適用于100nm聚苯乙烯膠乳）

可用激光波長：405nm、488nm、520nm、640nm、660nm

典型激光功率：>30mW

相機類型：CMOS

濾波器：11個