賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/N Series:用戶可通過需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實現3次
元（3D）影像中進行正確的分析出不良的種類，位置及大小。
賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/N Series簡介：
1.X-RAY INSPECTION SYSTEM：
搭載高性能Micro-focus Open Tube (160kV)的高性能檢測設備，實現高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外，用戶可通過需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實現3次元（3D）影像中進行正確的分析出不良的種類，位置及大小。
2.X-ray Simple & Easy 3D CT：
1).半導體，電子產品，封裝等產品精密分析用非破壞性檢測設備（大型PCB可進行非破壞性CT分析）
2).可搭載Option自動檢測S/W，通過手動裝料后的自動檢測，可實現產品全檢
3).最大可實現550 x 650mm尺寸的產品不良檢測
4).通過Dual CT (Oblique CT, Cone-beam CT)方式的3D檢測，提供高分辨率，高精度的分析檢測環境
5).可搭載長壽命Filament，利于用戶使用便利性（可適用于量產檢測）
賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/N Series等，歡迎咨詢上海賽可，我們為您提供賽可（SEC）X-RAY檢測設備 的參數、價格、型號、原理等信息，賽可（SEC）X-RAY檢測設備 SF160F/N Series產地為韓國、品牌為賽可，歡迎大家咨詢。
2