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賽可(SEC)X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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品牌 SEC/賽可
型號(hào)
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
所在地 上海市

屬性

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更新時(shí)間：2024-11-06 08:15:46瀏覽次數(shù)：1392評(píng)價(jià)

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產(chǎn)品分類品牌分類

X-Ray檢測(cè)設(shè)備

全部產(chǎn)品列表

SEC/賽可

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	價(jià)格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,制藥

賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series廣泛應(yīng)用于要求檢測(cè)Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging（WLP)領(lǐng)域里。

詳細(xì)介紹

賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series簡(jiǎn)介：

該檢測(cè)設(shè)備搭載200納米的Nano-focus Tube，廣泛應(yīng)用于要求檢測(cè)Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging（WLP)領(lǐng)域里。通過大理石平臺(tái)和各個(gè)高精度驅(qū)動(dòng)軸，可以更加精準(zhǔn)的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進(jìn)行斷層分析，通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動(dòng)裝卸Waffer，自動(dòng)檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)Full Auto全自動(dòng)檢測(cè)的設(shè)備。

賽可（SEC）X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series特點(diǎn)：

1.搭載自主研發(fā)生產(chǎn)的200nm級(jí)別開管式光管（Focal spot size Nano-focus open tube）

2.Wafer level工藝中，對(duì)TSV，Micro-bump，Cu pilar等產(chǎn)生的超細(xì)微不良進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)的優(yōu)秀選擇

3.SEC*的3D CT用Auto Collimation 及 Filtering技術(shù)實(shí)現(xiàn)X-ray damage free（無(wú)損檢測(cè)）

4.安全檢測(cè)存儲(chǔ)半導(dǎo)體芯片

5.可同時(shí)兼容2D,3D自動(dòng)檢測(cè)