亚洲人成无码网站久久99热国产,最新中文字幕AV专区,久久无码人妻丰满熟妇区毛片

南京芯測軟件技術(shù)有限公司

查看電話 在線咨詢

立即詢價(jià)

您提交后，專屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)

點(diǎn)擊提交代表您同意《用戶服務(wù)協(xié)議》《隱私政策》

半導(dǎo)體測試設(shè)備的簡介

閱讀：2463 發(fā)布時(shí)間：2023-3-15

　　一、應(yīng)用原理：

　　(1)探針卡(probecard)探針卡是自動(dòng)測試機(jī)與待測器件(DUT)之間的接口,在電學(xué)測試中通過探針傳遞進(jìn)出wafer的電流。

　　(2)探針臺(tái)(prober)因此測試對于檢驗(yàn)芯片的功能性來說是一項(xiàng)非常重要的工作,硅片測試能夠分辨一個(gè)好的芯片和一個(gè)有缺陷的芯片。RDON是VDMOS在導(dǎo)通狀態(tài)下漏源之間的導(dǎo)通電阻。

　　二、發(fā)展背景介紹：

　　(1)半導(dǎo)體檢測貫穿半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、晶圓制造、封裝三大流程。半導(dǎo)體制造工藝十分復(fù)雜，包含成百上千道工序，每一道出錯(cuò)都可能影響芯片功效。為了提高良率、控制成本，需要在重要的工序后借助半導(dǎo)體檢測設(shè)備對晶圓和芯片的質(zhì)量進(jìn)行檢測，及時(shí)將不符合規(guī)范的產(chǎn)品剔除。

　　(2)主要的檢測環(huán)節(jié)包括：設(shè)計(jì)驗(yàn)證、過程工藝控制檢測(PC測試)、CP測試(晶圓測試)、FT測試(成品測試)。

　　(3)其中設(shè)計(jì)驗(yàn)證、CP測試和FT測試可統(tǒng)稱為半導(dǎo)體測試，又稱后道測試；過程工藝控制檢測則可稱為前道檢測。過程工藝控制檢測所用的設(shè)備種類較多，半導(dǎo)體測試的主要設(shè)備是測試機(jī)、分選機(jī)和探針臺(tái)。

　　三、作用過程：

　　(1)關(guān)鍵參數(shù)測量，即對被觀測的晶圓電路上的結(jié)構(gòu)尺寸和材料特性做出的量化描述，如薄膜厚度、關(guān)鍵尺寸、刻蝕深度、表面形貌等物理性參數(shù)的量測；

　　(2)缺陷檢測，即在晶圓表面上或電路結(jié)構(gòu)中檢測是否出現(xiàn)異質(zhì)情況，如顆粒污染、表面劃傷、開短路等對芯片工藝性能具有不良影響的特征性結(jié)構(gòu)缺陷；

　　(3)其他小類型的檢測，如電阻率的測試，離子注入濃度檢測等。

亚洲中文久久精品无码WW16,亚洲国产精品久久久久爰色欲,人人妻人人澡人人爽欧美一区九九,亚洲码欧美码一区二区三区

半導(dǎo)體測試設(shè)備的簡介

會(huì)員登錄

收藏該商鋪

提示