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深圳市奧宇自動(dòng)化設(shè)備有限公司
初級(jí)會(huì)員 | 第3年

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當(dāng)前位置:深圳市奧宇自動(dòng)化設(shè)備有限公司>>機(jī)械設(shè)備>>工程機(jī)械>> LANGER代理 A200-1 SET 示波器探頭 A300-1SET

LANGER代理 A200-1 SET 示波器探頭 A300-1SET

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品       牌

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所  在  地

更新時(shí)間:2024-07-31 19:07:26瀏覽次數(shù):41次

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LANGER代理 A200-1 SET 示波器探頭 A300-1SET


LANGER:

langer-emv.de

原產(chǎn)地:

德國(guó)

品牌全稱:

Langer EMV-Technik

LANGER產(chǎn)品:

掃描儀、掃描探頭、探測(cè)頭、放大器

應(yīng)用領(lǐng)域:

汽車、集成電路、車輛工程、機(jī)械

LANGER公司簡(jiǎn)介

LANGER EMV-Technik有限公司是一家活躍在電磁兼容領(lǐng)域的,集研究、發(fā)展和生產(chǎn)于一體的中型電工公司。LANGER EMV-Technik公司以其電磁兼容專有知識(shí)和測(cè)量技術(shù)展現(xiàn)出在組件和集成電路開發(fā)中的新視角和經(jīng)濟(jì)高效的工作策略。LANGER產(chǎn)品主要有掃描儀/掃描探頭/探測(cè)頭/放大器 等。

印刷電路板的抗干擾性

抗干擾開發(fā)系統(tǒng)

用于開發(fā)過程的發(fā)生器

配件(猝發(fā) / 電快速瞬變脈沖發(fā)生器 IEC 61000-4-4)

光信號(hào)傳輸

猝發(fā)脈沖序列探測(cè)器

印刷電路板的干擾發(fā)射

用于開發(fā)過程的測(cè)試技術(shù)

近場(chǎng)探頭

前置放大器

光信號(hào)傳輸

測(cè)試及校準(zhǔn)工作臺(tái)

印刷電路板

集成電路

連接器

DB 20 set

D10 set

集成電路測(cè)試技術(shù)

集成電路的測(cè)試環(huán)境

干擾發(fā)射

集成電路的抗干擾性

IC Side Channel Analysis

掃描儀

Langer 掃描儀

Near-field Scanner Probes

軟件

CS-Scanner, ChipScan-Scanner 軟件

CS-ESA set, ESA芯片掃描軟件

ICS 105 set

四軸定位IC掃描儀

FLS 106 IC set

四軸定位IC掃描儀

FLS 106 PCB set

PCB 掃描儀 (三軸定位系統(tǒng))

SUH 106

SUG 106




印刷電路板的抗干擾性

抗干擾開發(fā)系統(tǒng)

用于開發(fā)過程的發(fā)生器

配件(猝發(fā) / 電快速瞬變脈沖發(fā)生器 IEC 61000-4-4)

光信號(hào)傳輸

猝發(fā)脈沖序列探測(cè)器

印刷電路板的干擾發(fā)射

用于開發(fā)過程的測(cè)試技術(shù)

近場(chǎng)探頭

前置放大器

光信號(hào)傳輸

模擬

A100-1 set

單通道光纖探頭(25KHz)

A100-2 set

雙通道光纖探頭(25KHz)

A200-1 set

單通道光纖探頭(500KHz)

A200-2 set

A300-1 set

A300-2 set

PA 203 BNC set

前置放大器(100KHz-3GHz)

PA 203 SMA set

前置放大器(100KHz-3GHz)

PA 303 BNC set

前置放大器(100KHz-3GHz)

PA 303 SMA set

前置放大器(100KHz-3GHz)

PA 303 N set

前置放大器(100KHz-3GHz)

PA 306 SMA set

前置放大器 (100 kHz-6 GHz)

無源LF(100 kHz - 50 MHz)

無源RF(30 MHz - 3 GHz)

無源XF(30 MHz - 6 GHz)

無源SX(1 GHz - 20 GHz)

HR, Passive, up to 40 GHz

有源MFA(1 MHz - 6 GHz)

CM-SHP

MP CI set

數(shù)位

總線系統(tǒng)

測(cè)試及校準(zhǔn)工作臺(tái)

測(cè)試技術(shù)的學(xué)習(xí)和培訓(xùn)

集成電路測(cè)試技術(shù)

掃描儀

Langer 掃描儀

Near-field Scanner Probes

P603-1 / P750 set

基于IEC61967-4標(biāo)準(zhǔn)的傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量

P603 / P750 set

S603 / S750 set

P600 / P750 set

P1601 / P1702 set

P1602 / P1702 set

ICI 01 L-EFT set

集成電路Langer電磁脈沖耦合

ICI 03 L-EFT set

集成電路Langer電磁脈沖耦合 SMA

ICI HH500-15 L-EFT

脈沖磁場(chǎng)源

ICI E450 L-EFT

Pulse E-Field Source

ICI I900 L-EFT

Pulse Current Source (FBBI)

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