產品簡介
詳細介紹
光譜儀/紫外可見分光光度計/UV1800系列紫外可見分光光度計
儀器簡介
本產品采用全新設計的比例監測雙光束學系統,具有優良的光學性能,使用方便,是實驗室分析*的基本儀器之一。
光譜儀/紫外可見分光光度計/UV1800系列紫外可見分光光度計
儀器特性
☆ 優良的光學性能
采用全新設計的比例監測雙光束光學系統,具有了優良的光學性能;高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光。
☆ 功能全面
1)光度測量,可測量設定波長處的透過率和吸光度;
2)光譜測量,在波長范圍內進行透過率、吸光度、透射率、反射率和能量的圖譜掃描,并可進行各種數據處理如峰谷檢測、導數運算、譜圖運算等;
3)定量測量,K系數法,線性回歸方程法建立A-C曲線進行定量測定;
4)動力學測定,在任意設定的波長處進行透過率和吸光度的時間掃描并可進行各種數據運算。
5)數據輸出,可進行數據文件和參數文件的存取,測量結果以標準通用的數據文件格式輸出。
☆ 設計*的電路測控系統
設計*的電路測控系統,使儀器具有高度的穩定性和極低的噪聲。
☆ 樣品室可拆卸
具有可拆卸結構的樣品室設計,自動4聯池,易于更換不同的附件,以滿足不同的分析需求。
☆ 寬敞型開放式光源室設計,使燈源更換更加方便
☆ 儀器性能穩定可靠
關鍵部件均選用進口器件,采用進口氘燈和進口光電池,保證了儀器性能穩定可靠。
☆ 強大的操作軟件
基于windows 環境下開發的中英文操作軟件,提供了豐富的*特色的分析功能,可對主機進行全面控制,包括數據采集(單點測量、多點測量、光譜掃描、定量測定、時間掃描)和各種數據處理。
· 標準化、峰谷檢測、面積計算
· 圖譜的放大、縮小、平滑、T-A轉換
· 單波長定量測定
· K系數法、一點工作曲線法、多點工作曲線法,可進行1~3次函數擬合
· 定量分析中的異常點剔除法
· 可對曲線系數進行校正
· 掃描圖譜、工作曲線和測試結果可海量存儲
· 測試報告以標準文件格式輸出
· 打印機可以任意選擇
☆ 大屏幕顯示
分辨率為320*240的6寸LCD屏。
技術指標
測光方式 | 透過率、吸光度、能量、反射率 | |
波長范圍 | 190 nm~1100 nm | |
光譜帶寬 | 2nm | |
雜散光 | ≤0.05 %T (220 nm,360nm NaL 溶液) | |
波長準確度 | ±0.3 nm | |
波長重復性 | 0.1nm | |
光度范圍 | -3 A~3 A | |
光度準確度 | ±0.3%T (0~100 %T) | |
±0.002A(0~0.5A) | ||
±0.004A(0.5~1A) | ||
光度重復性 | 0.001 A (0~0.5 A) | |
0.002A(0.5~1A) | ||
導數分辨率 | >0.5 | |
穩定性 | ≤±0.001A/h | |
噪聲 | ±0.001 A | |
基線平直度 | ≤±0.002A | |
電源 | 85V~265V,50/60Hz |