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菲希爾XDL210代理Fischer X射線測厚儀

XDL210/220參數

●設計用途：能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF)， 用于測定超薄鍍層和溶液分析。

●元素范圍：從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時，多可同時測定24種元素

●設計理念：臺式儀器，測量門向上開啟

●測量方向：由上往下

X射線源

●X射：帶鈹窗口的鎢管

●高壓： 三檔： 30 kV，40 kV，50 kV

●孔徑（準直器）： ? 0.3 mm 可選：? 0.1 mm； ? 0.2 mm；長方形0.3 mm x 0.05 mm

●測量點尺寸：取決于測量距離及使用的準直器大小， 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致 的測量點大小約?0.2mm

X射線探測

●X射線接收器：測量距離

●比例接收器：0 ~ 80 mm，使用保護的DCM測量距離補償法

●視頻系統：高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦，對被測位置進行監控十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸） 可調節亮度的LED照明，激光光點用于定位樣品

●放大倍數：40x – 160x

電氣參數

●電源要求：220 V ，50 Hz

●功率:120 W （不包括計算機）

●保護等級:IP40

尺寸規格

●外部尺寸：寬×深×高[mm]：570×760×650

●內部測量室尺寸：寬×深×高[mm]：460×495x（參考“樣品**高度"部分的說明）

●重量：107 kg