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FISCHER XDL220菲希爾X射線測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。
菲希爾XDL型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
菲希爾XDL系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
? 無錫駿展儀器供應(yīng)菲希爾X射線測厚儀測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
? 測量薄鍍層,例如裝飾鉻
? 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
? 全自動測量,如測量印刷線路板
? 分析電鍍?nèi)芤?/p>
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