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FISCHERSCOPE X-RAY XAN252
  • FISCHERSCOPE X-RAY XAN252
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貨物所在地：江蘇無錫市

更新時間：2024-09-05 10:31:36

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FISCHERSCOPE X-RAY XAN252，高性能X射線熒光測量儀，配有硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN252特點

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

高性能機型，具有強大的綜合測量能力

配有4 個電動調節的準直器和6個電動調節的基本慮片

配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析

由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現樣品定位

典型應用領域

對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量

對有害物質進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量

在珠寶和手表業，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析

用于高校研究和工業研發領域

FISCHERSCOPE® XDL®

X射線熒光測試儀，可手動或全自動測量功能性鍍層(包括鉻層測厚、銅厚測量)、防腐蝕鍍層和大規模生產零部件



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