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菲希爾代理|Fischer X射線測(cè)厚儀

菲希爾X射線測(cè)厚儀它特別適用于鍍層厚度的無(wú)損測(cè)量及材料分析。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)菲希爾X射線測(cè)厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

•測(cè)量大型工件的鍍層，如：機(jī)械零件和外殼

•在電鍍過(guò)程中進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)測(cè)量

•對(duì)合金材料進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)

正如所有的Fischescope x-ray菲希爾熒光光譜鍍層分析儀器一樣，F(xiàn)ischescope x-ray XAN 500儀器有著出色的精-確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。硅漂移探測(cè)器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測(cè)靈敏度。依靠菲希爾Fischer的基本參數(shù)法，可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。