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FISCHER XDL230臺式
  • FISCHER XDL230臺式
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貨物所在地:江蘇無錫市

更新時間:2024-09-02 17:37:54

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FISCHER XDL230臺式,菲希爾臺式測厚儀,Fischer代理,菲希爾X射線鍍層測厚儀

FISCHER XDL230臺式

通用規格:

設計用途能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF), 用于測定超薄鍍層和溶液分析。
元素范圍從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時,多可同時測定24種元素
設計理念臺式儀器,測量門向上開啟
測量方向由上往下
X射線源
X射**帶鈹窗口的鎢管
高壓三檔: 30 kV,40 kV,50 kV
孔徑(準直器)? 0.3 mm 可選:? 0.1 mm; ? 0.2 mm;長方形0.3 mm x 0.05 mm
測量點尺寸取決于測量距離及使用的準直器大小, 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致 小的測量點大小約? 0.2mm
X射線探測
X射線接收器測量距離
比例接收器0 ~ 80 mm,使用**保護的DCM測量距離補償法
樣品定位
視頻系統高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦,對被測位置進行監控十字線(帶有經過校準的刻度和測量點尺寸) 可調節亮度的LED照明,激光光點用于精確定位樣品
放大倍數40x – 160x
電氣參數
電源要求220 V ,50 Hz
功率* 120 W (不包括計算機)
保護等級IP40
尺寸規格
外部尺寸寬×深×高[mm]:570×760×650
內部測量室尺寸寬×深×高[mm]:460×495x(參考“樣品**高度"部分的說明)
重量107 kg
環境要求
使用時溫度10°C – 40°C
存儲或運輸時溫度0°C – 50°C
空氣相對濕度≤ 95 %,無結露
工作臺手動X/Y平臺
設計
X/Y平臺**移動范圍95 x 150 mm
可用樣品放置區域420 x 450 mm
Z軸馬達驅動
Z軸移動范圍140 mm
樣品**重量20kg
樣品**高度140 mm
激光(1級)定位點
計算單元
計算機帶擴展卡的WINOOWs®計算機系統
軟件 標準WinFTM® V.6 LIGHT
可選WinFTM® V.6 BASIC,PDM,SUPER
執行標準CE合格標準EN 61010
型式許可作為受*保護的儀器 型式許可*符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規的規定。
訂貨號FISCHERSCOPE X-RAY XDL230604-496
如有特殊要求,可與FISCHER磋商,定制特殊的XDL型號。



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