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FISCHERSCOPE X-RAY XAN215菲希爾代理
菲希爾代理、X射線測厚儀XDL210
菲希爾代理特性:
X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務
由于測量距離可以調節(最大可達 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸(可選)實現自動化的批量測試
使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設備)
應用:
鍍層厚度測量
大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
電路板上較薄的導電層和/或隔離層
復雜幾何形狀產品上的鍍層
鉻鍍層,如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量
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