菲希爾XDAL600

菲希爾X射線Fischer X熒光射線測厚儀特點

菲希爾X射線測厚儀Fischer x熒光分析儀采用DIN ISO 3497和ASTM B 568標準，用于自動測量達到0.05μm的

ppm級含量的材料分析的通用X射線熒光光譜儀

無錫駿展儀器供應3種不同的探測器可選（Si-PIN二極管；SDD 20 mm2；SDD 50 mm2）

無錫駿展儀器供應3種可切換基本濾片

無錫駿展儀器供應4種可切換準直器

最小測量點約為0.15mm

樣品最高高度可達14cm

可編程XY工作臺，定位精度為10µm

開槽箱體設計用于測量大的印刷電路板

經過認證的全面保護設備

菲希爾X射線測厚儀Fischer x熒光分析儀應用

菲希爾X射線測厚儀Fischer x熒光分析儀鍍層和合金（也包括薄涂層和低濃度）的材料分析

菲希爾X射線測厚儀Fischer x熒光分析儀電子行業，ENIG，ENEPIG

連接器和觸點

黃金，珠寶和制表業

PCB制造薄金（幾納米）和鈀鍍層的測量

微量元素分析

高可靠性應用的鉛（Pb）的測定（避免錫晶須）

對硬質材料涂層的分析