Fischer X射線測厚儀 XDL220

1、菲希爾X射線測厚儀FISCHER代理特點

優(yōu)化珠寶、錢幣和貴金屬的無損分析

固定光圈和固定濾光鏡，特別適用于貴金屬分析

配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD) 的型號還適用于更復(fù)雜的多元素分析

由下至上的測量方向可以更簡便地實現(xiàn)樣品定位

2、無錫駿展儀器供應(yīng)FISCHERSCOPE X-RAY XDL220典型應(yīng)用領(lǐng)域

珠寶和鐘表行業(yè)中的黃金和貴重金屬分析

牙科合金分析

無錫駿展儀器供應(yīng)熒光鍍層分析儀XDL 210特征:

• 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。Z高工作條件:50KV,50W

• X射線探測器采用比例接收器

• 準(zhǔn)直器：固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm 到 ? 0.3 mm

• 基本濾片：固定或3個自動切換

• 測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整

• 固定樣品支撐臺 ，手動XY工作臺

• 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。刻度線經(jīng)過校準(zhǔn)，顯示實際測量點大小。

• 設(shè)計獲得許可，防護(hù)全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)