菲希爾X射線測厚儀|Fischer代理|廠家

FISCHERSCOPE X-RAY XDL240菲希爾X射線測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自動檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL240菲希爾X射線測厚儀特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

• 全自動測量，如測量印刷線路板

• 分析電鍍?nèi)芤?/p>

FISCHERSCOPE X-RAY XDL240菲希爾X射線測厚儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。