Fischer測厚儀 熒光射線儀器

菲希爾全新 FISCHERSCOPE X-RAY XDV系列不僅更換了全新的設(shè)計(jì)，性能也顯著提升50%。

得益于儀器標(biāo)配的 DPP+ 數(shù)字脈沖處理器，您可以大大縮短測量時(shí)間和提高測量重復(fù)性。利用這雙重優(yōu)勢：您可以在測量時(shí)間和測量重復(fù)性之間找到合適您的應(yīng)用和要求的最佳方案。儀器配備了功能強(qiáng)大且界面友好的軟件，廣泛適用于各種應(yīng)用和行業(yè)。使用菲希爾的X射線儀器進(jìn)行更快速、更精準(zhǔn)的測量：

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY

菲希爾X射線測厚儀X-RAY XDV-SDD

全能選手

菲希爾X射線測厚儀XDV-SDD 是一款真正的全能型儀器，特別適用于測量<0.05µm的極薄鍍層和PPM級(jí)范圍內(nèi)的材料分析。配備了全新的DPP+和功能強(qiáng)大的硅漂移探測器（SDD），這臺(tái)多功能儀器可以提供出色的測量結(jié)果。