FISCHERSCOPE X-RAY XDL210

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210菲希爾X射線測厚儀比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

FISCHERSCOPE XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。

FISCHERSCOPE XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
菲希爾X射線測厚儀、X-RAY鍍層分析儀

菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應用領域有：

? 測量大規模生產的電鍍部件

? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻

? 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

? 全自動測量，如測量印刷線路板

? 分析電鍍溶液