貴金屬鍍層厚度測量

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款應用廣泛的能量色散型X 射線熒光光譜儀。它是從大眾認可的 FISCHERSCOPE X-RAYXDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。

比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了 Fischer 基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。可測量的元素范圍從氯 (17)到鈾(92)

XDL型X射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器

XDL系列儀器特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控

Fischer X射線測厚儀典型的應用領域有:

測量大規模生產的電鍍部件

測量薄鍍層，例如裝飾鉻

測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層全自動測量，如測量印刷線路板

分析電鍍溶液

貴金屬鍍層厚度測量