EPK MINITEST740
EPK MINITEST740
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀
EPK涂層測厚儀創新的SIDSP(探頭中的數字信號處理)技術提高了測量精度。
EPK涂層測厚儀測量范圍為15毫米，F、N或FN探頭可更換為內部或外部探頭。
FN探頭可自動識別F(鐵磁)或N(非磁)基體，操作簡單，*。
EPK涂層測厚儀SIDSP技術-智能數字涂層厚度測量探頭技術
模擬信號處理的時代已經過去，數字信號處理將成為未來的趨勢。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀使用的SIDSP是什么？
MINITEST740 SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)開發的，世界涂層厚度測量探頭技術。EPK這項技術為涂層厚度測量領域的創新奠定了新的標準。
MINITEST740 SIDSP是探頭內部的數字信號處理。這項技術使探頭能夠在測量時將信號*處理成數字形式。SIDSP探頭*按照world 技術制造。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀SIDSP的工作原理？
與傳統技術不同的是，SIDSP在探頭頂端產生并控制激勵信號，返回的信號經過32位數字轉換處理，為您帶來準確的涂層厚度值。這種數字處理技術也應用于現代通信技術(手機網絡)，如數字濾波、基帶轉換、平均值、隨機分析等等。與模擬信號處理相比，這種技術可以獲得更好的信號質量和精確度。厚度值通過探針電纜以數字方式傳輸到顯示設備。
與普通模擬探頭相比，SIDSP探頭具有決定性的優勢，樹立了涂層厚度測量的新標準。
