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菲希爾測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
  • 菲希爾測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
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貨物所在地:江蘇無錫市

更新時間:2024-09-06 13:07:41

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菲希爾測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

菲希爾測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

FISCHERSCOPE X-RAY菲希爾x熒光分析儀特點

采用DIN ISO 3497和ASTM B 568標準,用于自動測量達到0.05μm的鍍層和用于ppm級含量的材料分析的通用X射線熒光光譜儀

3種不同的探測器可選(Si-PIN二極管;SDD 20 mm2;SDD 50 mm2)

3種可切換基本濾片

4種可切換準直器

最小測量點約為0.15mm

樣品最高高度可達14cm

可編程XY工作臺,定位精度為10µm

開槽箱體設計用于測量大的印刷電路板

經過認證的全面保護設備

FISCHERSCOPE X-RAY菲希爾x熒光分析儀應用

鍍層和合金(也包括薄涂層和低濃度)的材料分析

電子行業,ENIG,ENEPIG

連接器和觸點

黃金,珠寶和制表業

PCB制造薄金(幾納米)和鈀鍍層的測量

微量元素分析

高可靠性應用的鉛(Pb)的測定(避免錫晶須)

對硬質材料涂層的分析

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀,通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度,從元素氯(17)到鈾(92),多可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,減少了校準儀器所需的時間和精力。Si-PIN的*基本參數法,可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。


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