糙度儀

Surtronic Duo泰勒霍普森粗糙度儀

泰勒霍普森粗糙度儀一種導塊式設備，導塊可引導傳感器沿著工件移動，使工件自身形成測量基準。此方法無需進行調平，通常可以輕松設置。而且測量回路較小，減輕了振動的影響。

泰勒霍普森粗糙度儀導塊是測量儀的組成部分，半徑足夠大，避免了測量面上的高低不平引起的Z值變化。測針和導塊在高度(Z)方向的移動各自獨立，但在測量方向上同時移動。

泰勒霍普森粗糙度儀測針和導塊在Z方向會記錄為表面偏差。導塊會充當機械濾波器，去除組件的波紋度數

這款儀器使用半徑為5μm的測針。

它具有以下三方面特性，使得儀器能成為檢查組粗糙度的便攜工具;

耐用性 – 即使誤操作也不會輕易受損。

維護性 – 能輕松去除在使用過程中所積累的灰塵油污。

適用性 – 可用作濾波器，去除最高的表面頻率，這些頻率在受控環境中的測量結果更可靠。

其它泰勒•霍普森儀器使用半徑為2 μm (80 μin)的測針。此較小的半徑搭配接觸力較小的感應測量頭使用時，能用于分析最小的表面缺陷。