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X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
菲希爾Helmut Fischer
DUALSCOPE MP0R菲希爾涂層測厚儀采用根據GB/T4956和GB/T495D IN EN ISO 2360，ASTM B244標準的電渦流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499電磁感應方法，被用來測量非導電涂層在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導電涂層在鐵或鋼上的厚度。dualscope mpor涂層測厚儀能自動地識別被測材料并選擇適合的測試方法。
DUALSCOPE MP0R菲希爾涂層測厚儀理想的適合于測量：
1. 鋼鐵材料上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。
2. 鋁、銅、金等箔、帶材料及紙張、塑料膜的厚度。
3. 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。
4. 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。
5. 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。
非鐵金屬鍍層、涂層（例如：鉻，銅，鋅等）在鐵或鋼上。油漆、臘克和合成涂層在鐵或鋼上。
非導電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上。
鋁的陽極氧化層。
單用測厚儀
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