您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)! 登錄| 免費(fèi)注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
當(dāng)前位置:無錫駿展儀器有限責(zé)任公司>>泰勒霍普森TAYLOR HOBSON粗糙度儀>>泰勒霍普森粗糙度輪廓儀>> 泰勒霍普森輪廓儀代理
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌TaylorHobson/英國泰勒霍普森
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地無錫市
更新時(shí)間:2024-06-20 12:28:49瀏覽次數(shù):654次
聯(lián)系我時(shí),請告知來自 化工儀器網(wǎng)TalyMaster表面粗糙度、圓度及輪廓測量設(shè)備
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥,綜合 |
---|
CCI HD 非接觸式光學(xué)3D輪廓儀簡介
CCI HD 是一種非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀,具有測量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有新型關(guān)聯(lián)算法,來查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界專業(yè)的非接觸式尺寸測量功能和專業(yè)的厚薄膜測量技術(shù)。
CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測量功能,還可以提供兩種類型的膜厚測量。 近年來厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料;測量的厚度限制取決于材料的折射率和標(biāo)的物的 NA。 測量較薄的涂層被證實(shí)為難度更高。現(xiàn)在通過干涉測量法可以研究厚度至 50 納米(同樣取決于折射率)的薄膜涂層。 采用這種新型方法,可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。
CCI HD 非接觸式光學(xué)3D輪廓儀優(yōu)勢
2048 x 2048像素陣列,視場廣,高分辨率
全量程0.1埃的分辨率
適用于0.3% - 100%的表面反射率
RMS 重復(fù)精度<0.2埃,階躍高度重復(fù)精度<0.1%
多語言版本的64位控制和分析軟件
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗(yàn)證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風(fēng)險(xiǎn),建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。