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菲希爾熒光射線測厚儀,菲希爾涂層測厚儀,F(xiàn)ischer鍍層測厚儀。
菲希爾熒光射線測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專為測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析而設(shè)計的入門級、耐用型測量儀。
微聚焦X射線管配合比例接收器能夠產(chǎn)生高計數(shù)率信號,以此造就了高精度的測量。出色的準確性及長期的穩(wěn)定性是FISCHER X射線儀器的共有特點,因此也大大減少了重新校準儀器的需要,為您節(jié)省時間和精力。
菲希爾X射線測厚儀Fischer測厚儀FISCHER所采用的的基本參數(shù)法,可以在沒有標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品及測量樣品的鍍層厚度。
FISCHERSCOPE X-RAY DLM-PCB 220配備了可電動切換的多種準直器和基本濾片,讓每次測量都可以條件下進行,滿足各種測量需求。
FISCHERSCOPE X-RAY DLM-PCB 220是用戶界面友好的臺式測量儀器。測量門底部留有空隙,以方便對大面積印制電路板的測量。儀器樣品定位簡便,配備了高精度、可編程的XY平臺,并帶有彈出功能。激光點作為輔助定位,能幫助快速對準測量位置。配備了高分辨率彩色攝像頭,使得對準測量位置的過程更加準確、簡便。
FISCHERSCOPE X-RAY DLM-PCB 220配備帶鈹窗口的微聚焦鎢管,提供三擋可選高壓,3種可切換基本濾片。
菲希爾熒光射線測厚儀