產地類別 |
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應用領域 |
環保,化工,石油,能源,電子 |
Fischer X射線測厚儀XDAL237,菲希爾x熒光射線測厚儀,菲希爾代理,可以測量金屬的鍍層厚度。
Fischer X射線測厚儀XDAL237
Fischer X射線測厚儀XDAL237
fischer XDAL237儀器可以用來測量SnPb焊層中的鉛含量。在這一- 應用中,首先要準確測量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業中高可靠性的要求,為避免裂紋的出現,合金中Pb的含量至少必須在3%以上。fischer XDAL237對于日常使用的電子產品,根據RoHS指令要求,Pb在焊料中的含量多不能超過1000ppm.盡管XDAL測量Pb含量的測量下限取決于SnPb鍍層的厚度,但是通常情況下XDAL的測量下限足夠低,可以很輕易達到以上的測量需求。
fischer測厚儀憑借電機驅動(可選)與自上而下的測量方向,fischer測厚儀XDL系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。菲希爾x射線測厚儀提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號,從而能夠根據不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設計上,FISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM菲希爾x射線測厚儀相對應。區別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上,使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器,從而有了遠好于XDLM使用的比例計數器的能量分辨率。因而,這臺儀器適合于一般材料分析,痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。
菲希爾xdal237X射線源是一個能產生很小光斑面積的微聚焦X射線管。菲希爾xdal237然而,由于相對較小的探測器有效接收面積(相比較比例計數器探測器來說),信號強度低,故XDAL有限適用于極微小結構和測量點的測量。菲希爾xdal237和XDLM類似,準直器和基本濾片是可自動切換,以便為不同測量程式創造良好的激勵條件。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大,可以用于測量復雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅動可調節的Z軸允許放置z高可達140mm高度的樣品。C型槽設計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。
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