產地類別 |
進口 |
應用領域 |
環保,化工,石油,能源,電子 |
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY測厚儀,菲希爾測厚儀,XAN系列儀器特別適合測量和分析超薄鍍層,即使鍍層成分復雜或含量微小也都能準確測量。該系列產品簡單易用且性價比高,因此在同類產品中脫穎而出
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY測厚儀
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY測厚儀
德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測試儀介紹:
1、適用于Windows 2000或Windows XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。
2、頻譜庫中允許創建從元素鈦至鈾的任何一種新的產品。
3、能通過“應用工具箱"(由一個帶所有應用參數的軟盤和校準標準塊組成)使應用的校準簡單化。
4、畫中畫測試件查看和數據顯示,帶快速移動焦距功能放大試件圖像;計算機生成的刻度化的瞄準十字星,并有X-射線光束大小指示器(光束的大小取決于測量的距離,見背面)
5、圖形化的用戶界面,測試件的圖像顯示可插入于測試報告中
6、對試件與視準器之間的距離進行視覺控制的校正(DCM方法)范圍可達80mm(3.2〞)
菲希爾手持式熒光射線測厚儀XAN500
菲希爾熒光射線測厚儀特點
通用手持式X射線熒光分析儀,即使材料組合困難復雜的情況下,也可以進行精確的鍍層厚度測量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標準
重量1.9 kg
一次電池充電可持續運行6個小時
測量點:3毫米?
高分辨率硅漂移檢測器
用于戶外的IP54等級
用作臺式設備的可選測量箱;
使用完整版WinFTM®軟件進行數據統計