產(chǎn)地類別 |
進(jìn)口 |
價格區(qū)間 |
面議 |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
環(huán)保,化工,石油,能源,電子 |
FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希爾x射線測厚儀,菲希爾涂層測厚儀,現(xiàn)貨供應(yīng),產(chǎn)品質(zhì)量優(yōu)價格好。
FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希爾x射線測厚儀
FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希爾x射線測厚儀
FISCHERSCOPE XDV-µ的特點
同時測量從Al(13)到U(92)的多達(dá)24個元素,XDV-μLD:S(16)-U(92)
菲希爾x射線測厚儀*的多毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng),可將X射線束聚焦到10μm(FWHM),用于微結(jié)構(gòu)測量
菲希爾x射線測厚儀可編程XY工作臺和模式識別,用于多個樣品的自動測量
擴(kuò)展樣品臺方便樣品的定位
向?qū)叫?zhǔn)過程
穩(wěn)健設(shè)計適合長期使用
光學(xué)顯微鏡(放大270倍),顯示圖像和激光定位點,可顯示精確的測量點
無需校準(zhǔn)即可進(jìn)行測量的基本參數(shù)分析
符合IPC-4552A、4553A、4554和4556,ASTM B568,ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)
Fischer的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)片可追溯到基本單位
菲希爾XDV-µ應(yīng)用
菲希爾XDV-µ微米和納米范圍內(nèi)的Au/Pd/Ni/CuFe和Sn/Ni鍍層
組裝和未組裝電路板
納米范圍內(nèi)的基底金屬化層(bump metallization,UBM)的測試
測量輕元素,例如 測量金和鈀下的磷含量(在ENEPIG和ENIG中)
銅柱上的無鉛焊料蓋
測試C4和較小焊點的元素組成,以及半導(dǎo)體行業(yè)中的小接觸面