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菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號

品       牌Helmut Fischer/德國菲希爾

廠商性質代理商

所  在  地無錫市

更新時間:2024-06-15 12:02:59瀏覽次數:641次

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產地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領域 環(huán)保,化工,石油,能源,電子
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菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237

x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設計理念:

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設計為界面友好的臺式測量儀器系列,配備了馬達驅動的X/Y工作臺,當保護門開啟時,工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程Z軸升降系統(tǒng)。

高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便定位測量位置。配備了激光點,可以輔助定位并快速對準測量位置。

測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計,由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。

帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放,并且允許測量點的調整。

所有的儀器操作,以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示,都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM軟件在電腦上完成。

XDLM237型鍍層測厚及材料分析儀*DIN ISO 3497標準和ASTM B 568標準,型式許可符合德國“Deutsche Rntgenverordnung-RV"法規(guī)規(guī)定。

為每次測量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件,儀器配備可電動調整的多個準直器和基本濾片。比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。

FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM237系統(tǒng)有著出色的性和良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經常校準儀器,節(jié)省時間和精力。

由于采用了基本參數法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。


菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237

x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數規(guī)格:

通用規(guī)格

設計用途

能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結構, 分析合金和微量組分。

元素范圍

從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM BASIC軟件時,zui多可同時測定24種元素

形式設計

臺式儀器,測量門向上開啟

測量方向

從上到下


X射線源

X射線管

帶鈹窗口的微聚焦鎢管

高壓

三檔: 30 kV,40 kV,50 kV

孔徑(準直器)

標準(523-440)

可選(523-366)

可選(524-061)

4個可切換準直器

[mm]: 0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: 0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: 0.1, 0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制

基本濾片

3種可切換的基本濾片(標準配置:鎳,鋁,無)

測量點

取決于測量距離及使用的準直器大小, 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的測量點大小: 光圈約 0.1 mm(選用準直器0.05x0.05 mm時)

 

 

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