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無錫駿展儀器有限責任公司
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x熒光射線fischerscope x-ray xdlm 232

參  考  價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號

品       牌Helmut Fischer/德國菲希爾

廠商性質代理商

所  在  地無錫市

更新時間：2024-06-15 12:01:26瀏覽次數：653次

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產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 環保,化工,石油,能源,電子
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 x熒光射線fischerscope x-ray xdlm 232

菲希爾XDLM系列 X射線熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計，是用于質量控制，質量檢驗和生產監控的最合適的測量儀器。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據不同的預期用途，有不同的版本。
XDLM 231 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統。

 x熒光射線fischerscope x-ray xdlm 232

儀器簡介：

適用于Windows2000或選擇適用于Windows XP的真Win32位程序帶在線幫助功能

頻譜庫中允許創建從元素鈦至鈾的任何一種新的應用

能通過“應用工具箱"(由一個帶所有應用參數的軟盤和校準標準塊組成)使應用的校準簡單化

畫中畫測試件查看和數據顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離）

圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中

對試件與視準器之間的距離進行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達80mm(3.2〞)

測量模式用于：單、雙及三層鍍層系統

x-ray xdlm 232

x-ray xdlm 232

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