鍍層厚度要求在陰極表面上分布的均勻性和完整性，是決定鍍層厚度要求質(zhì)量的一個(gè)重要因素，它在一定程度上影響著鍍層厚度要求的防護(hù)性能。鍍層膜厚儀，簡(jiǎn)稱為，鍍層厚度檢測(cè)儀，是用來(lái)專業(yè)測(cè)量，金鎳，銅厚，等，鍍層的厚度的標(biāo)準(zhǔn)儀器。X熒光鍍層測(cè)厚儀工作原理原理：通過(guò)高壓產(chǎn)生電子流打入到X光管中靶材產(chǎn)生初級(jí)X光，初級(jí)X光經(jīng)過(guò)過(guò)濾和聚集射入到被測(cè)樣品產(chǎn)生次級(jí)X射線，也就是我們通常所說(shuō)的X熒光，X熒光被探測(cè)器探測(cè)到后經(jīng)放大，數(shù)模轉(zhuǎn)換輸入到計(jì)算機(jī)。計(jì)算機(jī)計(jì)算出我們需要的結(jié)果。

鍍層厚度分析儀器性能特點(diǎn)

準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性
鍍層厚度分析儀器技術(shù)指標(biāo)

分析檢出限可達(dá)1ppm
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
多變量非線性回歸程序
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
外觀尺寸： 550×416×333mm
重量：45Kg

移動(dòng)樣品平臺(tái)
信號(hào)檢測(cè)電子電路
大功率X光管
應(yīng)用領(lǐng)域

地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)

本公司是是國(guó)內(nèi)的光譜儀、質(zhì)譜儀、色譜分析儀器專業(yè)生產(chǎn)企業(yè)，主營(yíng)：RoHS2.0檢測(cè)儀,有害元素分析儀，快速鄰苯測(cè)試儀，金屬合金分析儀,煙氣重金屬在線監(jiān)測(cè)儀,水質(zhì)空氣煙氣土壤重金屬在線監(jiān)測(cè)儀。公司集研發(fā)、生產(chǎn)、代理銷售為一體，專業(yè)的光譜儀器生產(chǎn)商本公司為廣大電子,電器,五金,塑膠,鞋材,鞋廠,皮具,箱包企業(yè)提供無(wú)鉛測(cè)試儀器,RoHs檢測(cè)儀,RoHS2.0十項(xiàng)測(cè)試、EN71~3檢測(cè)儀,玩具安全檢測(cè)儀,RoHs測(cè)試儀器 ,無(wú)鹵檢測(cè)儀器. X熒光光譜儀、ICP等儀器。