無(wú)損X熒光鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用范圍

－測(cè)厚范圍可測(cè)定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。請(qǐng)告訴牛津儀器您的具體應(yīng)用，我們將列表可測(cè)定的厚度范圍－基本分析功能無(wú)標(biāo)樣檢量線(xiàn)測(cè)厚，可采用一點(diǎn)或多點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)樣品自動(dòng)進(jìn)行基本參數(shù)方法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。樣品種類(lèi)：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測(cè)元素范圍：Ti22–U92可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時(shí)，可同時(shí)測(cè)定15種元素多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較元素光譜定性分析－調(diào)整和校正功能系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能：校正X射線(xiàn)管、探測(cè)器和電子線(xiàn)路的變化對(duì)分析結(jié)果的影響，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移譜峰計(jì)數(shù)時(shí)，峰漂移自動(dòng)校正功能譜峰死時(shí)間自動(dòng)校正功能譜峰脈沖堆積自動(dòng)剔除功能標(biāo)準(zhǔn)樣品和實(shí)測(cè)樣品間，密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計(jì)算－測(cè)量自動(dòng)化功能(要求XY程控機(jī)構(gòu))鼠標(biāo)激活測(cè)量模式：“PointandShoot"多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式：隨機(jī)模式、線(xiàn)性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測(cè)量模式測(cè)量位置預(yù)覽功能激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能－樣品臺(tái)程控功能(要求XY程控機(jī)構(gòu))設(shè)定測(cè)量點(diǎn)OneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測(cè)量位置預(yù)覽(圖表顯示)

－統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、大值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表直方圖數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)功能

－系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能Z軸保護(hù)傳感器樣品室門(mén)開(kāi)閉傳感器操作系統(tǒng)多級(jí)密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師－任選軟件統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶(hù)自定義多媒體報(bào)告書(shū)液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量材料鑒別和分類(lèi)檢測(cè)材料和合金元素分析貴金屬檢測(cè)，如Aukarat評(píng)價(jià)

無(wú)損X熒光鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

重量：90 kg

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線(xiàn)性回收程序

長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性高

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層

無(wú)損熒光鍍層測(cè)厚儀一次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層

薄可測(cè)試0.005μm

分析含量一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)（每種材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm