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貨物所在地：廣東東莞市
所在地： 東莞
更新時(shí)間：2024-11-16 21:00:07
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PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 納米力學(xué)臺 集成了壓電驅(qū)動四軸樣品臺及定量力學(xué)壓頭，樣品及壓頭兩側(cè)同時(shí)控溫，是開展材料納米力學(xué)行為研究的重要工具。
技術(shù)指標(biāo)
| 力加載指標(biāo) | 加熱控溫 |
| 1. 載荷大小：0-100mN； | 1. 溫度范圍：室溫至400℃（更高溫度可選）； |
| 2. 位移范圍：100μm； | 2. 控溫精度：±1℃； |
| 樣品臺移動指標(biāo) | 3. 控溫方式：兩端同時(shí)控溫； |
| 1. XYZ三軸或XYZT四軸； | 4. 軟件控制； |
| 2. X軸移動行程：±10mm； | |
| 3. Y軸移動行程：±10mm； | |
| 4. Z軸移動行程：±10mm； | |
| 5. 軟件控制； |
產(chǎn)品選型
納米力學(xué)臺 同時(shí)可拓展低溫附件。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI、JEOL、ZEISS、Tescan及ZEPTOOLS等多種掃描電子顯微鏡型號的納米力學(xué)臺，支持定制。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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