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中紅外兩級TE冷卻光浸式光電探測器
  • 中紅外兩級TE冷卻光浸式光電探測器
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貨物所在地:上海上海

更新時間:2024-07-12 21:00:06

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2-12μm MCT 中紅外兩級TE冷卻光浸式光電探測器 PVI-2TE系列是基于復雜的HgCdTe異質結構的兩級熱電冷卻紅外光電探測器,具有好的性能和穩定性,同時采用光學浸入來改善器件的參數。探測器在λopt時具有好性能。
中紅外兩級TE冷卻光浸式光電探測器總覽

PVI-2TE系列是基于復雜的HgCdTe異質結構的兩級熱電冷卻紅外光探測器,具有好的性能和穩定性,同時采用光學浸入來改善器件的參數。探測器在λopt時具有性能。起始波長可根據需要進行優化。反向偏置電壓可以顯著提高響應速度和動態范圍以及高頻下的性能,但偏置器件中出現的1/f噪聲可能會降低低頻下的性能。3°楔狀藍寶石(wAl2O3)或硒化鋅抗反射涂層(wZnSeAR)窗口可防止不必要的干擾影響。

2-12μm MCT 中紅外兩級TE冷卻光浸式光電探測器 PVI-2TE系列產品特點

● 可探測中紅外波長范圍2-12μm

● 可配專用前置放大器

● 1mm×1mm大尺寸光敏面

● 帶有抗反射涂層窗口鏡

● 帶有超半球微型砷化鎵透鏡實現光學浸沒,有效提升探測效率

封裝及尺寸

TO8型封裝外形尺寸圖

23.jpg

參量

數值

浸沒微型透鏡形狀

超半球形

光學區域面積AOmm×mm

0.5×0.5

1×1

R,mm

0.5

0.8

A,mm

4.1±0.3

3.2±0.3

備注:

?—接收角度;

R—超半球微型透鏡半徑

A—2TE-TO8型封裝頂部下表面與焦平面的距離


2TE-TO8引腳定義

功能

PIN號

探測器

1,3

反向偏壓(可選)

1(-),3(+)

熱敏電阻

7,9

TE冷卻器供應

2(+),8(-)

底板接地

11

未使用

4,5,6,10,12


2TE-TO66封裝尺寸圖

參量

數值

浸沒微型透鏡形狀

超半球形

光學區域面積AO;mm×mm

0.5×0.5

1×1

R,mm

0.5

0.8

A,mm

5.15±0.30

3.2±0.30

備注:

?—接收角度;

R—超半球微型透鏡半徑

A—2TE-TO66型封裝頂部下表面與焦平面的距離


TO66引腳定義

功能

PIN號

探測器

7,8

反向偏壓(可選)

7(-),8(+)

熱敏電阻

5,6

TE冷卻器供應

1(+),9(-)

未使用

2,3,4

產品應用

● 醫學熱成像

● 紅外光譜分析

● 中紅外氣體吸收檢測

● 中紅外激光探測

技術參數

參數

探測器型號

PVI-2TE-3

PVI-2TE-3.4

PVI-2TE-4

PVI-2TE-5

PVI-2TE-6

PVI-2TE-8

PVI-2TE-10.6

有源元件材料

外延MCT異質結構

最佳波長λopt,μm

3

3.4

4

5

6

8

10.6

探測靈敏度D*(λpeak),cm·Hz?/w

≥8×1011

≥6×1011

≥4×1011

≥2×1011

≥7×1010

≥4×109

≥2×109

探測靈敏度D*(λopt),cm·Hz?/W

≥5.5×1011

≥3×1011

≥3×1011

≥9×1010

≥4×1010

≥2×109

≥1×109

電流響應度Ri(λopt),A/W

≥0.5

≥0.8

≥1.3

≥1.3

≥1.5

≥0.8

≥0.4

時間常數T,ns

≤280

≤200

≤100

≤80

≤50

≤45

≤10

電阻-感光元件面積乘積R·AO,Ω·cm2

≥15000

≥300

≥200

≥10

≥2

≥0.02

≥0.01

有源元件溫度Tdet,K

~230

感光面面積AO,mm×mm

0.5×0.5,1×1

0.05×0.05

封裝

TO8,TO66

接收角Φ

~36°

窗口

wAl2O3

wZnSeAR

探測器光譜響應特性曲線

PVI-2TE.png

熱敏電阻特性曲線

PV-2TE1.jpeg

兩級TE冷卻參數表

參量

數值

Tdet , K

~230

Vmax , V

1.3

Imax , A

1.2

Qmax , W

0.36


抗反射涂層窗口光譜透過率曲線

PV-2TE2.jpeg

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